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ポール フレームSADT の具体的なハンマーに関するすべてのあなたの助けを本当にありがとうよく働かせているおよび私達はそれと非常に嬉しいです硬度のテスター。
コンタクトパーソン :
Hu
電話番号 :
010-82600228
普遍的な角度の線形正確さの携帯用Leebの硬度のテスター
| 起源の場所 | 中国 |
|---|---|
| ブランド名 | SADT |
| 証明 | ce, ISO 9001 |
| モデル番号 | HARTIP2000 |
| 最小注文数量 | 1SET |
| 価格 | USD200-400/Pcs |
| パッケージの詳細 | 配達パッケージ:カートン |
| 受渡し時間 | あなたの前金のレシートの後の3仕事日以内に |
| 支払条件 | T/T、ウェスタン・ユニオン |
| 供給の能力 | 1ヶ月あたりの500の部分/部分 |
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x商品の詳細
| 主義 | Leebの硬度の測量員 | 表示 | バックライトとのデジタルLCD |
|---|---|---|---|
| 硬度のスケール | HL/HRC/HRB/HB/HV/HS/σb | 材料 | 10の共通の金属材料 |
| 色 | 赤い | 純重量（g） | 240 |
| 次元（mm） | 127x66x29 | 表示器 | 低い電池 |
| 名前 | leebの硬度のテスター | ||
| ハイライト | 普遍的な角度のLeebの硬度のテスター,線形正確さのLeebの硬度のテスター,携帯用Leebの硬度のテスターにバックライトを当てなさい |
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製品の説明
普遍的な角度の10共通の金属材料HARTIP 2000の金属のジュロメーターのための携帯用Leebの硬度のテスター
細部
HARTIP2000はHARTIP 2000年に普遍的な角度（UA）の影響の方向硬度のテスターを作る私達の新しいパテントの技術の革新的な携帯用Leebの硬度のテスターである。
それは測定をあらゆる角度によって取るとき影響の方向をセットアップする必要性ではない。 従って、HARTIP 2000は角度償い方法と比較する線形正確さを提供する。
HARTIP 2000年はまた費用節約の硬度のテスターで、他の多くの特徴がある。
主要特点
•普遍的な角度の影響の方向
•影響の方向をセットアップする必要性無し
•影響の方向のための補償無し
•角度のための線形正確さ
•高精度:+/-2HL （または0.3% @HL800）
•バックライトが付いている大きいデジタルLCD表示
•造られた鋼鉄を含む10のテスト材料
•それに強さの転換の価値がある
•直接マイクロ プリンターへのRS232インターフェイス
•300データ記憶のためのそして再読される
•許可される顧客のre-calibration
•自動的に電源-入/切
指定:
| SADT HARTIPの2000年の硬度のテスター | |
|---|---|
| 主義 | Leebの硬度の測定 |
| 正確さ | ±0.3% @ HL=800の反復性:±2HL |
| 表示 | バックライトとのデジタルLCD |
| 硬度のスケール | HL/HRC/HRB/HB/HV/HS/σb |
| 測定範囲 | HL170-960/HRC17-70/HRB13-109/HB20-655/HV80-940 / HS32-99.5/σb （RM） 255-2639N/mmの² |
| 影響装置 | DU、DL、D+15、G、C （任意） |
| 影響の方向 | 普遍的な角度（UA）のタイプ |
| 材料 | 10の共通の金属材料 |
| 記憶 | 300データは貯えられ、再読解可能である場合もある |
| 統計量 | 自動的に計算される |
| Re-calibration | ユーザーによって許される |
| 表示器 | 低い電池 |
| コミュニケーション インターフェイス |
マイクロ プリンターへのRS232 bluetoothマイクロ プリンターへのBluetooth （任意） |
| 電源遮断の自動 | 自動車 |
| 電源 | 1.5V AAのアルカリ電池X 2 |
| 労働環境 | -10~+45ºC |
| 次元（mm） | 127x66x29 |
| 純重量（g） | 240 |
| 標準 | ASTM A956に従って、DIN 50156、GB/T 17394-1998 |
| タイプ | 簡潔な説明 | |
| D |
硬度のテストの大半のための普遍的な標準単位 割り当て。 |
|
| DC | 非常に短い影響装置、タイプD.と同一の他のspecs。 | |
| 適用: | - 非常に狭い場所 | |
| - 穴およびシリンダー | ||
| - 組み立てられた機械の内部測定 | ||
| D+15 | 細い前部 | |
| 適用: | - 溝および引込められた表面。 | |
| DL | 非常に細い前部 | |
| 適用: | - 非常に狭い場所 | |
| - 溝の基盤 | ||
| C | 減らされた影響エネルギー（タイプD）と比較される。 | |
| 適用: | - 表面の堅くされた部品、コーティング | |
| - 最低の層の厚さ:0.2mm。 | ||
| - 薄い-囲まれたまたは影響の敏感な部品（小さい測定の刻み目）。 | ||
| E | 総合的なダイヤモンド テスト先端（approx.5000 HV）。 | |
| 適用: | - 高炭素の鋼鉄1200までHVのような非常に高い硬度の測定 | |
| G | 高められた影響エネルギー（およそ9回タイプD）の | |
| 適用: | - Brinell硬度の範囲だけ | |
| - 表面の終わりのより低い要求を用いる重い鋳造物そして造られた部分。 | ||
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